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探针式轮廓仪系统Dektak XTL
液晶屏研发的台阶步级高度测量触控面板薄膜厚度测量太阳能涂层薄膜测量柔性电子器件薄膜:有机光电探测器印于薄膜和玻璃上的有机薄膜触摸屏铜迹线探针式轮廓仪系统Dektak XTL技术参数软件选项:自动图形
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Dektak XT台阶仪
实现zei高的性能单传感器设计,提供单一平面上低作用和宽扫描范围规格:测量技术:探针轮廓仪DEKTAK XT测量功能:二维表面轮廓测量/可选三维测量样品视景:可选放大倍率,1to4mmFOV探针传感器
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体视显微镜XTL-201
尺寸310mmX280mm照明方式上光源:3W高亮度LED下光源:5W高亮度LED 选配件名称技术参数目镜大视野目镜 WF15X(Φ15mm)大视野目镜 WF20X(Φ12mm)大视野目镜
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XTL-2400体视显微镜
【详细说明】 公司产品─────────○ 体视显微镜 变倍型PXS 变倍型XTT 电视型XTL-100V 单目型XTL-100C 双目型XTL-2300 双目型XTL-2400 电脑型
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轮廓仪
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XTL-3000C体视显微镜
仪器的主要技术指标:物镜变倍范围 0.7--4.5X 目 镜 WF10X(视场20mm) 光学放大倍数 7—45X 变 倍 比 6.5:1 双目瞳距调节范围 55--75mm 工作距离
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探针轮廓仪
仪器简介:三维轮廓仪NanoMap-LS 三维轮廓仪NanoMap-LS 拥有超大的扫描范围,仅需按下一个按钮即可产生高分辨率的三维和二维图像 。 三维轮廓仪的应用 三维表面形貌/轮廓仪
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光电轮廓仪
,解决了关键部件的进口难题;增加了自动步距和亮度校正程序,同时增加了局部放大三维立体图功能; WGL光电轮廓仪的参数表面微观不平深度测量范围:130?1nm 测量的重复性:sRa≤0.5nm 测量精度
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XTL-3200双目体视显微镜
,2X测微目镜:10X 刻尺分划板:0.01mm 机械载物台:180 x1550mm 照明装置:8W荧光灯,220V/110V 可选 XTL-3200大视场连续变倍双目体视显微镜使用范围相当广泛
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单纤维轮廓仪
纤维测量仪器用来测量单纤维在不同的试验参数下(例如:拉伸速度、隔距)下力学性能(模量、断裂功和断裂伸长等)、外观形态(纤维的形貌、直径、长度、断裂断形貌和断裂过程)等,通过这些参数的测量来表征
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